WAT（Wafer Acceptance Test）测试，也叫PCM（Process Control Monitoring），对Wafer 划片槽（Scribe Line）测试键（Test Key）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定. 例如CMOS的电容，电阻， Contact，Metal Line 等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的 ...

WAT（Wafer Acceptance Test，晶片接受测试）、CP（Chip Probing，晶片级芯片探针）和FT（Final Test，封装芯片级最终测试）是半导体制造过程中的关键环节。半导体工程师赵工详细解释了这三个环节的作用和重要性，以及它们在半导体制造过程中的作用。 CP是将坏的Die ...